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像散對掃描電鏡成像質量的影響通過之前的文章，大家了解了“加速電壓”與“束流強度”對圖像的成像質量有非常大的影響。其實除了加速電壓、樣品的導電性、電鏡的束流強度，像散、圖像的亮度對比度等都會影響掃描電鏡圖像的成像質量。今天，這一篇文章將教大家...

設備更新|粉末原子層沉積（PALD）：科研平臺建設“新質生產力”隨著對科技創新的不斷重視和投入，新一輪的大規模設備以舊換政策為廣大高校和研究機構帶來了發展機遇。高質量的科研平臺建設是提升研究水平、增強競爭力的關鍵。ForgeNano的新型粉...

掃描電鏡拍攝技巧|如何避免掃描電鏡觀察過程中碳沉積現象在使用掃描電鏡進行樣品觀察時，尤其是采用二次電子模式，隨著觀察時間的延長，在觀察的區域會出現一塊黑的矩形的區域。如下圖所示，對一塊空白的鋁制樣品臺進行觀察時，一段時間后降低放大倍數，發現...

設備更新｜掃描電鏡SEM&透射電鏡TEM離子束制樣設備2024年3月1日，《推動大規模設備更新和消費品以舊換新行動方案》經審議通過。會議指出，推動新一輪大規模設備更新和消費品以舊換新，是著眼于我國高質量發展大局作出的重大決策。同時指出，新一...

掃描電鏡制樣：保證掃描電鏡樣品清潔有多重要？掃描電鏡（SEM）主要用于微觀形貌分析，其測試結果的好壞，一方面是由儀器的性能、測試條件和操作人員水平決定，另一方面還與樣品制備過程有關。掃描電鏡（SEM）樣品需要保持清潔、無污染物，盡量把污染程...

在上篇文章中，我們介紹了原子層沉積（ALD）方法包覆電極材料的必要性以及粉末涂層（PC）和極片涂層（DC）兩種不同的改性策略。（詳見：原子層沉積（ALD）技術在鋰電材料中的應用（一）：電極粉末包覆的必要性（上））ALD方法對于電極材料的改善...

引言使用FIB切削獲得超薄樣片(lamella)，是一種常見的塊體材料TEM制樣方法。然而，鎵離子束輻照損傷所帶來的非晶層卻像一片難以驅散的迷霧，阻礙著人們獲得更高質量的TEM照片，進而也限制了對輕元素的量化分析。可以選擇離子精修儀對FIB...

納米印刷沉積：助力納米技術發展，引發納米能源領域革命性變革絕緣、傳導、反射、保溫、耐磨和防銹等材料及其特性在日常生活中發揮著重要作用，科學家們正在不斷努力改善材料的特性以制造出具備更優性能的產品。更好的隔熱效果可以降低供暖成本；更好的傳導導...