前言

2024 年 3 月 1 日，《推動(dòng)大規(guī)模設(shè)備更新和消費(fèi)品以舊換新行動(dòng)方案》經(jīng)國(guó)務(wù)院常務(wù)會(huì)議審議通過(guò)。會(huì)議指出，推動(dòng)新一輪大規(guī)模設(shè)備更新和消費(fèi)品以舊換新，是黨中央著眼于我國(guó)高質(zhì)量發(fā)展大局作出的重大決策。同時(shí)指出，新一輪換新工作仍堅(jiān)持標(biāo)準(zhǔn)，更好發(fā)揮能耗、排放、技術(shù)等標(biāo)準(zhǔn)的牽引作用，智能、綠色、低碳的科研儀器，將成為設(shè)備更新的主力軍。

飛納臺(tái)式掃描電鏡秉持智能、低碳環(huán)保的設(shè)計(jì)理念，以極低的運(yùn)行能耗（約 200W）將臺(tái)式電鏡的分辨率提升到了 1nm，同時(shí)集背散射（BSD）、二次電子（SED）、能譜（EDS）、掃描透射（STEM）四種探測(cè)器于一身。

STEM探測(cè)器可以選擇BF像、DF像、HAADF像以及自定義

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PPI 自由編程——電鏡更加智能化

Phenom 飛納電鏡不僅擁有專門(mén)針對(duì)顆粒、孔徑、纖維、3D 重構(gòu)、全景拼圖等 5 大自動(dòng)識(shí)別統(tǒng)計(jì)和拍照的軟件，其 PPI 編程功能，更是開(kāi)辟了可編程的智能掃描電鏡新領(lǐng)域。融合了可編程 PPI 后，飛納臺(tái)式掃描電鏡已進(jìn)化成為智能化的測(cè)量工具。根據(jù)客戶的工作流，進(jìn)行自由編程，如自定義自動(dòng)拍照（視頻）、自動(dòng)掃描、以及更加完善的工作流。

MIT 李巨教授的博士生，使用飛納電鏡的 PPI 進(jìn)行編程，結(jié)合 Chat GPT，開(kāi)發(fā)了一個(gè)實(shí)驗(yàn)科學(xué)家的人工智能助手 CRESt，把 AI 變成了科研工作者的 “專業(yè)攝影師”，不僅可以自動(dòng)拍照，而且可以拍符合要求的電鏡照片！

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掃描電鏡能有多智能？軟件也是硬實(shí)力！

飛納電鏡的多種智能化應(yīng)用工具，為眾多領(lǐng)域開(kāi)辟了智能化掃描電鏡應(yīng)用場(chǎng)景的新天地，更是融合了綠色低碳與智能化設(shè)計(jì)理念的優(yōu)選。

ParticleX Battery 鋰電清潔度系統(tǒng)

鋰電池中的銅、鋅、鐵等金屬異物可能導(dǎo)致嚴(yán)重的安全事故，對(duì)金屬異物的管控也已成為行業(yè)共識(shí)。ParticleX Battery 全自動(dòng)鋰電清潔度分析系統(tǒng)，基于掃描電鏡+能譜法可自動(dòng)識(shí)別、分析和統(tǒng)計(jì)銅、鋅、鐵等金屬異物，進(jìn)而幫助分析異物來(lái)源，改善生產(chǎn)條件，減少安全事故的發(fā)生。樣品測(cè)試自動(dòng)切換，生產(chǎn)工程師可以輕松實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)監(jiān)控生產(chǎn)車(chē)間的質(zhì)量控制。

ParticleX Steel 鋼鐵夾雜物系統(tǒng)

在各種夾雜物分析技術(shù)中，目前國(guó)內(nèi)外比較準(zhǔn)確和可靠的分析儀器是由前美國(guó) FEI 公司生產(chǎn)的基于掃描電鏡+能譜法的Aspex 系列產(chǎn)品（ParticleX Steel 全自動(dòng)鋼鐵夾雜物分析系統(tǒng)前身）。因其全自動(dòng)集成一體化的快速夾雜物分析和報(bào)告功能在全球鋼鐵行業(yè)得到了廣泛認(rèn)可，并且已有大量文獻(xiàn)報(bào)道該技術(shù)在鋼鐵生產(chǎn)中應(yīng)用的各種成功案例。

ParticleX TC 汽車(chē)清潔度系統(tǒng)

汽車(chē)行業(yè)越來(lái)越關(guān)注 SiO、AlO 等硬質(zhì)顆粒的影響，傳統(tǒng)的清潔度分析方法只能提供清潔部件上大顆粒灰塵和碎片的總體重量或形狀信息，而不能全面分辨顆粒的污染源。ParticleX TC 全自動(dòng)汽車(chē)清潔度分析系統(tǒng)，基于掃描電鏡+能譜法取代傳統(tǒng)顆粒物清潔度檢測(cè)方法，允許工程師看見(jiàn)微米尺寸的顆粒并確定其化學(xué)成分，從而判斷出污染源。

Phenom GSR 槍擊殘留物系統(tǒng)

在槍擊事件中，槍擊殘留物 GSR 的分析將發(fā)揮重要的作用。GSR 分析技術(shù)首先基于掃描電子顯微鏡 （SEM） 的背散射成像，用來(lái)掃描樣品和發(fā)現(xiàn)可疑的 “GSR” 顆粒。一旦發(fā)現(xiàn)可疑的顆粒，使用能譜（EDS）識(shí)別在該粒子中的元素。較常見(jiàn)的搜索元素為 Pb，Sb 和 Ba。無(wú)鉛底火的檢測(cè)，例如 Ti 和 Zn 也可作為搜索條件進(jìn)行搜索。

DiatomAI 硅藻檢測(cè)系統(tǒng)

基于飛納臺(tái)式掃描電鏡的 DiatomScope 自動(dòng)硅藻檢驗(yàn)系統(tǒng)為硅藻相關(guān)檢驗(yàn)提供成熟、可靠、高效的解決方案，可自動(dòng)完成每批各個(gè)樣品的高質(zhì)量圖像捕捉，實(shí)現(xiàn)地毯式拼圖（可設(shè)置夜間自動(dòng)運(yùn)行）；用戶從獲取的圖片中逐個(gè)查找、標(biāo)記硅藻位置，并對(duì)所有標(biāo)記的位置自動(dòng)高倍數(shù)取圖，自動(dòng)生成包含所有被標(biāo)記硅藻的高質(zhì)量圖片的報(bào)告。

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PhaseMapping——讓相分布更加直觀

在使用能譜檢測(cè)樣品的同時(shí)，可顯示出不同相在樣品中的分布情況，使得物相分布直觀可見(jiàn)，同時(shí)具有相歸類，計(jì)算相比例等功能，非常適用于合金、陶瓷、礦物分析等領(lǐng)域的測(cè)試分析。

EBL 電子束曝光——在飛納電鏡中完成圖案制作

可在飛納電鏡中，利用電子束來(lái)進(jìn)行微細(xì)圖案的曝光和制造,在這個(gè)過(guò)程中，電子束被聚焦并精確地照射在感光材料表面，制備具有特定形狀、尺寸、材料的微納結(jié)構(gòu)，該技術(shù)能夠在納米級(jí)別上精確制造復(fù)雜圖形和結(jié)構(gòu)，可應(yīng)用于包括微電子、集成電路制造、傳感器、生物醫(yī)學(xué)等諸多領(lǐng)域。

復(fù)納科技提供智能、高效、可靠的科學(xué)儀器和解決方案，通過(guò)服務(wù)與客戶建立長(zhǎng)期合作關(guān)系。如您對(duì)飛納電鏡的新型號(hào)、以及新功能感興趣，歡迎咨詢。

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