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    如何通過掃描電鏡檢測汽車清潔度中的硬質(zhì)顆粒并獲取成分信息

    發(fā)布時間: 2025-07-16  點擊次數(shù): 174次

    摘要:

    隨著汽車工業(yè)對質(zhì)量與可靠性的要求日益提升,汽車清潔度檢測已成為保障關(guān)鍵零部件穩(wěn)定運行的核心環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)方法難以滿足對微小顆粒的識別需求,因此,先進(jìn)的掃描電鏡(SEM)技術(shù)正被廣泛應(yīng)用于清潔度分析領(lǐng)域。借助掃描電鏡結(jié)合X射線能譜儀(EDX)的高分辨率成像與元素分析能力,工程師不僅能夠檢測出微米級污染顆粒,還可精確判斷其材質(zhì)與來源,大幅提升汽車零部件清潔度控制的準(zhǔn)確性與效率。特別是在滿足ISO 16232與VDA 19標(biāo)準(zhǔn)方面,掃描電鏡正逐漸成為評估和提升汽車零部件清潔度的核心工具。

     

    汽車行業(yè)中關(guān)于清潔部件的要求,最早由羅伯特·博世公司(Robert Bosch)在 1996 年為了提高柴油汽車發(fā)動機(jī)共軌噴射系統(tǒng)的生產(chǎn)質(zhì)量而提出,他們在生產(chǎn)中發(fā)現(xiàn)小的噴嘴很容易被系統(tǒng)中殘留的污染顆粒物堵塞,于是提出了生產(chǎn)中清潔部件的質(zhì)量規(guī)范,形成清潔度測試標(biāo)準(zhǔn)。

     

     

    2005 年德國汽車行業(yè)協(xié)會出版了 VDA 19 標(biāo)準(zhǔn), 由于德國汽車工業(yè)的巨大影響力,該標(biāo)準(zhǔn)一經(jīng)實施便成為非常有用的文件。國際標(biāo)準(zhǔn)化組織在吸收、借鑒 VDA 19 標(biāo)準(zhǔn)基礎(chǔ)上,于 2007 年發(fā)布了 ISO 16232 系列清潔度檢測標(biāo)準(zhǔn),成為世界范圍內(nèi)政府層面主導(dǎo)的通用標(biāo)準(zhǔn)。

    2018 年 12 月,新版的國際標(biāo) 準(zhǔn) ISO 16232 - 2018《道路車輛部件和系統(tǒng)的清潔度》發(fā)布實施,本文基于該標(biāo)準(zhǔn),解讀了掃描電鏡 / X 射線能譜儀(SEM/EDX)分析方法,并運用該方法進(jìn)行鋁合金壓鑄件顆粒物的測試分析。

     

    1.并非所有顆粒都具有相同的風(fēng)險特征

    清潔度一般指汽車零件、總成及整機(jī)等部位被顆粒物污染的程度,用規(guī)定的方法從特定的部件采集到顆粒物的質(zhì)量、大小、形狀、數(shù)量、材料種類等特征參數(shù)來表征。特定部件指潛在危機(jī)產(chǎn)品壽命的部件,如:燃油系統(tǒng)、制動系統(tǒng)、冷卻系統(tǒng)、液壓系統(tǒng)等,其中液壓系統(tǒng)部件對污染顆粒物的存在尤為敏感。具體采用何種方法及指標(biāo)對顆粒物進(jìn)行測試分析,取決于不同顆粒物對部件性能的影響程度及清潔度控制精度要求。

     

     

    2. 不同種類顆粒的危害分析

    目前,硬質(zhì)顆粒的行業(yè)關(guān)注度非常高,以下是不同種類顆粒的危害性。

     

     

    3.現(xiàn)有測試方法及其局限性

    傳統(tǒng)的清潔度分析方法(重量法和光鏡法)只能提供清潔部件上大顆粒灰塵和碎片的總體重量或形狀信息,而不能確定污染物的確切種類(如 SiO 和 AlO 等硬質(zhì)顆粒),無法全面分析顆粒的污染源。

     

     

    4.飛納 ParticleX 全自動清潔度分析系統(tǒng)

    為獲得顆粒的材質(zhì)屬性,需要采用掃描電鏡 / X 射線能譜儀(SEM/EDX)分析方法。飛納 ParticleX  全自動清潔度分析系統(tǒng),以掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ),可以全自動對顆粒或雜質(zhì)進(jìn)行快速識別、分析和分類統(tǒng)計,允許工程師看見微米尺寸的顆粒并確定其化學(xué)成分,從而判斷出污染源,為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。

     

     

    該過程符合 ISO 16232 和 VDA 19 要求。只需一鍵,即可自動分析 4 片直徑 47mm 的濾膜,無需人員值守,可連續(xù)運行,并且一鍵生成報告,更有效率地監(jiān)控過程清潔度。

    每個顆粒都分別分析并存儲相應(yīng)的數(shù)據(jù)。利用顆粒查看器,用戶可以輕松地對單個顆粒重新查看進(jìn)行更深入的分析或成像。

    # ParticleX 獲得的測試結(jié)果#

     

     

    基于掃描電鏡的測試方法與當(dāng)前應(yīng)用普遍的光鏡測試方法的區(qū)別如下:

     




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