發(fā)布時(shí)間： 2025-06-23 點(diǎn)擊次數(shù)： 1296次
LiteScope AFM-SEM
同步聯(lián)用技術(shù)
在微觀世界的探索中，原子力顯微鏡(AFM)與掃描電子顯微鏡(SEM)一直是科學(xué)家們重要的工具。然而，傳統(tǒng)技術(shù)中兩者往往獨(dú)立運(yùn)行，難以在同一時(shí)間、同一點(diǎn)位對樣品進(jìn)行綜合分析。如今，LiteScope AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)以創(chuàng)新，成功打破了這一局限，為微觀研究帶來了全新的視角和可能性。
01.革命性的同步聯(lián)用技術(shù)
LiteScope AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)的核心在于其特殊的同步聯(lián)用設(shè)計(jì)。它將 AFM 的高分辨率表面形貌分析能力與 SEM 的強(qiáng)大成像功能美結(jié)合，實(shí)現(xiàn)了在 SEM 內(nèi)部原位條件下對樣品的同步分析。這種設(shè)計(jì)不僅確保了樣品分析的同步性、同地性和同條件性，還通過 SEM 畫面實(shí)時(shí)觀測探針與樣品的相對位置，為探針提供導(dǎo)航，實(shí)現(xiàn)了對感興趣區(qū)域的精準(zhǔn)定位。無論是復(fù)雜的樣品結(jié)構(gòu)，還是對精度要求很高的研究，LiteScope 都能輕松應(yīng)對。
02.
兼容主流電鏡品牌，也支持定制化服務(wù)
LiteScope AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)，兼容賽默飛世爾、TESCAN、蔡司、日立、JEOL 等主流品牌 SEM系統(tǒng)及其配件，其他品牌電鏡亦可定制適配。這種廣泛的兼容性和定制化服務(wù)，使得 LiteScope 能夠滿足不同用戶的需求，輕松集成到現(xiàn)有的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備中。
LiteScope
原位樣品表征
03.
精準(zhǔn)定位與高分辨率成像
在樣品分析中，精準(zhǔn)定位是獲取可靠數(shù)據(jù)的關(guān)鍵。LiteScope 利用 SEM 導(dǎo)航 AFM 尖端到感興趣區(qū)域，實(shí)現(xiàn)了快速且精準(zhǔn)的定位。通過在樣品上保持電子束指向 AFM 尖端附近，并保持恒定偏移，兩個(gè)顯微鏡的數(shù)據(jù)可以在同一時(shí)間、同一地點(diǎn)和相同條件下獲取。這種設(shè)計(jì)不僅保證了數(shù)據(jù)的同步性，還實(shí)現(xiàn)了高分辨率的成像效果。
04.
融合優(yōu)勢，拓展應(yīng)用邊界
AFM 與 SEM 作為亞納米級樣品分析中應(yīng)用廣泛且互補(bǔ)的兩大技術(shù)，其融合帶來的優(yōu)勢不言而喻。LiteScope 通過將 AFM 集成至 SEM 中，不僅保留了兩者各自的優(yōu)勢，還實(shí)現(xiàn)了超高效的工作流程，完成了傳統(tǒng) AFM 和 SEM 難以或無法實(shí)現(xiàn)的極限性能和復(fù)雜樣品分析。可提供機(jī)械、電氣、磁學(xué)、光譜等多種測量模式，且能同-位置直接聯(lián)用 SEM 及 EDS 功能，同時(shí)獲取 AFM 與 SEM 數(shù)據(jù)，并將其無縫關(guān)聯(lián)。這種多模態(tài)的分析能力，為材料科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體、太陽能電池開發(fā)、生命科學(xué)等研究領(lǐng)域及工業(yè)應(yīng)用提供了更好的分析可能性。
05.
先進(jìn)的 CPEM+ 技術(shù)與高效工作流程
LiteScope 采用了尖端的相關(guān)探針和電子顯微鏡(CPEM)技術(shù)，這種硬件相關(guān)技術(shù)使得 SEM 和 AFM 數(shù)據(jù)能夠同時(shí)獲取，并自動(dòng)無縫相關(guān)用戶可以同時(shí)進(jìn)行 AFM 和 SEM 數(shù)據(jù)的多通道采集，實(shí)現(xiàn)圖像相關(guān)性精度。探針自動(dòng)調(diào)優(yōu)和人工智能驅(qū)動(dòng)的數(shù)據(jù)處理和校正技術(shù)，進(jìn)一步提升了工作效率，使得整個(gè)工作流程更加快速和平滑。這種高效的工作方式，不僅節(jié)省了時(shí)間，還提高了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。
06.
豐富的應(yīng)用領(lǐng)域與優(yōu)勢
• 在材料科學(xué)中，它可以對 1D/2D 材料、鋼鐵和金屬合金、電池、陶瓷、聚合物和復(fù)合材料等進(jìn)行深入分析
• 在納米結(jié)構(gòu)研究中，F(xiàn)IB/GIS 改性表面、量子點(diǎn)、納米結(jié)構(gòu)薄膜、納米圖案、納米線等都是其研究對象
• 在半導(dǎo)體領(lǐng)域，集成電路、太陽能電池、失效分析、摻雜可視化、電流泄漏定位等應(yīng)用都能從中受益
• 在生命科學(xué)領(lǐng)域，細(xì)胞生物學(xué)、海洋生物學(xué)、蛋白質(zhì)技術(shù)等研究也能借助 LiteScope 獲得更深入的洞察。
07.
豐富靈活的選配功能
LiteScope 還提供了豐富的選配件，如納米壓痕模塊、NenoCase 與數(shù)碼相機(jī)、樣品旋轉(zhuǎn)模塊等，進(jìn)一步拓展了其應(yīng)用范圍和靈活性。
納米壓痕模塊：能夠在使用超高倍數(shù)掃描電子顯微鏡觀察樣品的同時(shí)進(jìn)行微機(jī)械實(shí)驗(yàn)，并利用 LiteScope 以亞納米級分辨率對壓痕樣品進(jìn)行分析。
NenoCase 與數(shù)碼相機(jī)：在環(huán)境條件或不同氣氛下將 LiteScope 作為獨(dú)立 AFM 使用，通過數(shù)碼相機(jī)精確導(dǎo)航探針。
樣品旋轉(zhuǎn)模塊：適用于 FIB 后進(jìn)行 AFM 分析。此外還允許同時(shí)安裝多個(gè)樣品實(shí)現(xiàn)在不打開 SEM 腔室的情況下即可對多個(gè)樣品進(jìn)行測試。
LiteScope AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)以其革命性的同步聯(lián)用設(shè)計(jì)、融合優(yōu)勢、先進(jìn)的 CPEM+ 技術(shù)、精準(zhǔn)定位與高分辨率成像能力、豐富的應(yīng)用領(lǐng)域與優(yōu)勢、強(qiáng)大的軟件支持與靈活的選配件，以及兼容主流電鏡品牌的特性，為微觀世界的探索帶來了一場技術(shù)革命。
它不僅提高了分析效率，降低了成本，還為科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用提供了更深入、更全面的分析手段。無論是在材料科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體、太陽能電池開發(fā)，還是在生命科學(xué)等領(lǐng)域，LiteScope 都將成為研究人員和工程師們重要的得力助手，助力在微觀世界中取得更多的突破和發(fā)現(xiàn)。如您對此解決方案感興趣，歡迎咨詢我們。
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